Dias da PI no IST – 2016

Informação

Em 2016 o IST tem planeadas novas sessões de PI abertas a toda a comunidade do IST, sendo o único limite os lugares disponíveis nas salas.

A participação em cada uma das sessões deve ser precedida de inscrição no formulário para cada sessão.

Os inscritos serão informados de qualquer alteração. Esta página vai, igualmente, sendo atualizada conforme seja conveniente.

Em caso de sobrelotação, dar-se-á prioridade aos investigadores e docentes do IST, aos alunos do IST e posteriormente aos gestores das SPIN-OFFs do IST e aos alumni. O Núcleo de Propriedade Intelectual do IST contactará com antecedência de 24h em caso de sobrelotação.

Para quaisquer questões, contacte o Núcleo da Propriedade Intelectual do IST: pi@tecnico.ulisboa.pt

Datas e Temas das Sessões Planeadas para 2016:

Sessão 1: PROPRIEDADE INDUSTRIAL, O QUE É?

Sessão 2: REQUISITOS DE PATENTEABILIDADE

  • 24 junho 2016
  • 16h30
  • Campus da Alameda – Sala iStart (Edifício de Matemática, Piso -1)
  • Formulário de Inscrição

Sessão 3: PESQUISA NO ESPACENET

  • 26 outubro 2016
  • 16h30
  • Campus da Alameda – Sala iStart (Edifício de Matemática, Piso -1)
  • Formulário de Inscrição

Sessão 4: PRINCIPAIS ERROS DO INVENTOR

  • 16 dezembro 2016
  • 16h30
  • Campus da Alameda – Sala iStart (Edifício de Matemática, Piso -1)
  • Formulário de Inscrição

Informação sobre as sessões

Sessão 1: PROPRIEDADE INDUSTRIAL, O QUE É?

Os participantes devem ser capazes de compreender e identificar os conceitos gerais da Propriedade Industrial, identificar o que é e o que não é patenteável, e quais os critérios de patenteabilidade para que uma invenção seja objeto de patente. Devem igualmente ter conhecimento de como formalizar um pedido de patente junto do INPI e conhecer o WORKFLOW a nível nacional. É ainda transmitida uma primeira abordagem às vias europeias e internacional, devendo os formandos no final ser capazes de identificar as principais particularidades destas duas vias.

Programa:

1. Propriedade Industrial
2. Invenções
3. Critérios de patenteabilidade
4. Vias de proteção
a. Nacional
b. Europeia
c. Internacional

Sessão 2: REQUISITOS DE PATENTEABILIDADE

O participante deverá ser capaz de compreender e identificar os conceitos gerais relativos aos requisitos de patenteabilidade necessários à concessão de pedidos de patente e de modelos de utilidade, bem como ser capaz de compreender as diferenças entre patente e modelo de utilidade face aos requisitos de patenteabilidade e de apreender possíveis motivos de recusa com base nestes requisitos.

Programa:

1. Conceito de invenção
2. Conceito de patente e modelo de utilidade
3. Critérios de patenteabilidade
4. Definição e Exemplos de Novidade
5. Definição e Exemplos de Atividade Inventiva
7. Diferença entre patente e modelo de utilidade
8. Conceito de “evidente” e perito na especialidade
9. Abordagem Problema – Solução
10. Definição e Exemplos de Aplicação Industrial

Sessão 3: PESQUISA NO ESPACENET

O participante deverá ser capaz de efetuar pesquisas no espacenet, e compreender a importância desta ferramenta para analisar o estado da técnica, quer para efeitos de apresentação de pedido de patente, quer para investigação.

Programa:

1. Importância da pesquisa de patentes
2. ESP@CENET
3. Operadores de pesquisa
4. Campos de pesquisa
5. Classificação
6. Pesquisa e visualização de resultados
7. Exportação de dados para o Excel
8. Exercícios práticos

Sessão 4: PRINCIPAIS ERROS DO INVENTOR

O participante deverá ficar a conhecer os principais erros que devem ser evitados quando se tem uma invenção e se pretende obter a proteção por patente.

Programa:

1. Divulgar a invenção antes de fazer o pedido
2. Comercializar a invenção antes de patenteá-la
3. A invenção não ser nova
4. Não considerar o problema técnico
5. Não respeitar os prazos de Prioridade
6. Ninguém querer a invenção
7. Não submeter o pedido na altura certa
8. Não divulgar toda a matéria da invenção no pedido
9. Patentear as invenções erradas
10. Não patentear a invenção e mantê-la em segredo
11. Não ter uma ideia realística do valor da invenção

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